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mura检测设备及存储介质与流程

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  • 发布时间:2022-03-02 09:57
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【概要描述】mura检测涉及显示画面缺陷检测领域,特别涉及显示画面的多重缺陷检测方法、装置、检测装置及存储介质,那么,下面一起了解下mura检测设备及存储介质与流程吧!

mura检测设备及存储介质与流程

【概要描述】mura检测涉及显示画面缺陷检测领域,特别涉及显示画面的多重缺陷检测方法、装置、检测装置及存储介质,那么,下面一起了解下mura检测设备及存储介质与流程吧!

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  mura检测涉及显示画面缺陷检测领域,特别涉及显示画面的多重缺陷检测方法、装置、检测装置及存储介质,那么,下面一起了解下mura检测设备及存储介质与流程吧!

  mura检测背景技术:

  在显示面板上产生mura检测缺陷原因很多,例如偏振板材料的质量差、薄膜晶体管的泄漏不均和背光源的发光不均等,主要表现为显示面板的局部亮度不均,而且形状不一定,对比度低,边缘模糊

  传统的mura检测缺陷检测方法有两种,一种是人眼观察检测mura缺陷,而人眼检测mura缺陷的过程是主观的,且随着工作时间的延长,人眼出现疲劳,检测效率降低; 另一种是采用光学检测装置,现有的光学检测装置在执行mura缺陷检测后需要人工研究,研究效率通常较低。

  综上所述,现有的显示画面的mura缺陷检测方法存在不能迅速且自动地完成显示画面的mura检测缺陷检测的问题。

  mura检测技术实现要素:

  提供一种显示mura检测缺陷检测方法、装置、检测装置及存储介质,解决了现有的显示mura缺陷检测方法不能迅速且自动地完成显示器的mura缺陷检测的问题。

  提供了以下显示屏幕mura检测缺陷检测方法:

  将测定对象显示器的检查图像分割成至少两个块

  对各区块进行mura缺陷检测,得到mura缺陷的检测结果;

  对存在mura缺陷的mura缺陷检测结果进行mura缺陷滤波更新mura缺陷检测结果,并将更新后的mura缺陷检测结果发送给上位机。

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