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mura检测中缺陷量化是怎么回事?

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【概要描述】mura检测公司说,对重建的背景图像和可以检测到的LCD图像之间的差异进行简单的图像相减。减法的结果可能包含不同程度的mura缺陷。这是一个复杂的多制造商和用户市场,很难确定面板质量的量化水平。因此,用人机工程学的方法研究人眼的敏感度是有效的方法之一。是否使用半导体设备进一步评估图像减影得到的检测结果,并与国际材料(半公式)进行比较,进行JND定义的mura量化。mura检测公司说,Semu值可以

mura检测中缺陷量化是怎么回事?

【概要描述】mura检测公司说,对重建的背景图像和可以检测到的LCD图像之间的差异进行简单的图像相减。减法的结果可能包含不同程度的mura缺陷。这是一个复杂的多制造商和用户市场,很难确定面板质量的量化水平。因此,用人机工程学的方法研究人眼的敏感度是有效的方法之一。是否使用半导体设备进一步评估图像减影得到的检测结果,并与国际材料(半公式)进行比较,进行JND定义的mura量化。mura检测公司说,Semu值可以

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       mura检测公司说,对重建的背景图像和可以检测到的LCD图像之间的差异进行简单的图像相减。减法的结果可能包含不同程度的mura缺陷。这是一个复杂的多制造商和用户市场,很难确定面板质量的量化水平。因此,用人机工程学的方法研究人眼的敏感度是有效的方法之一。是否使用半导体设备进一步评估图像减影得到的检测结果,并与国际材料(半公式)进行比较,进行JND定义的mura量化。mura检测公司说,Semu值可以定义为以下:

  其中CX是图像对比度;Cjnd是小对比度极限检测;是mura的面积大小(像素);

  平均图像强度的Mura面积;IB是图像背景区域的平均强度。利用人机工程学方法,对上述Semu指标进行分析,定义人眼对mura的感知与表情之间的关系,量化mura的水平,并与Mura面积进行比较。回归关系(Cjnd,The)定义了检测的小对比度极限。mura区域和人类之间的对比是mura  JND。JND增加到0.33次方与mura面积成反比意味着当mura面积变小时,只能感觉到更暗的缪拉[12]。因此,地面是否认义作为JND的衡量目标之一。从人机工程学的观察距离来看,半标是否标准化,以至于Semu的单位表示为明显缺陷?在该方法中,可以准确地将Semu值作为阈值来评估是否存在对工业生产具有重要意义的潜在测试标准。

  mura检测公司说,所开发的方法的实际性能是评估本地TFT/LCD制造商在含有自然mura的工业液晶面板上提供的缺陷。用建立的方法检测出6例自然病mura。

同时,研究它也很重要。mura检测公司说,检测灰度差之间的mura利用了显影缺陷和背景图像的方法。为了达到这个目的,需要在液晶面板上增加十个不同的灰度级,而人工圆形mura缺陷有一个常见的灰度分布,其灰度值在10到1之间,如图15所示。通过该方法获得的Semu的评估结果如表2所示。是否明确确认了mura缺陷与背景的小可检测灰度差由五个实验结果表示,降低截止频率(Fh和Fv)应该可以提高缺陷的检测灵敏度,特别是当灰度差很小时。然而,通过这种方式,不需要的图像条纹在水平和垂直方向上延伸,并且整个Mura区域可以重新出现在重建的背景图像中。这样是否也会增加图像处理的难度?需要缺陷分割和量化。对所提出的方法进行了比较。

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